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探針臺

APS-2000XT2

  • 副標題8寸半自動三溫精密探針臺

詳細說明

通用半自動測試,8寸以下兼容,有高低溫測試選件。


項目性能指標
可測圓片尺寸6#8#
xy工作臺行程220mm*450mm
分辨率0.1μm
定位精度≤±5μm
控制方式直線電機,光柵尺閉環
承片臺Z向行程30mm(分辨率1μm)
定位精度≤±3μm
Z臺自動補償位移傳感器自動晶圓高度測試(選配)
θ向微調范圍±10°(分辨率0.0000425°)
Chuck盤平面度<10μm
結構尺寸高低溫三同軸真空環槽結構
溫控系統(高低溫選配)溫控范圍‘-50°C~150°C
溫控精度分辨率0.1°C;溫控穩定性:全溫區±1°C
保護氣體N2(流量:20L/H,壓力:<0.2MPa)
探針保護八角盤
微腔機構微腔機構整體封閉微腔;氮氣保護
上下片方式手動
圖像對準,觀察配置金相單筒顯微鏡,無級變倍范圍:0.6X~5X超長工作距離物鏡:2X/5X/10X三只 
調節機構XY調節行程:50mm*50mm,Z軸微調30mm,Z氣動自動行程100mm(選配件)
減震臺氣浮減震臺950mm*1200mm*950mm(寬深高)一體化氣浮減震臺(500mm寬操作及儀表平臺)
軟件功能MAP加載,編輯,導出
對準自動掃平,首點對準
測試圓形,MAP,重測,跳測。
打點離線,同步,噴墨打點,墨點尺寸φ0.5mm
接口TTL(標準):GPIB/RS232/接口(選項)
外形尺寸探針臺尺寸950mm*1200mm*1200mm(寬*深*高)
溫控箱尺寸800*800*1300(寬*深*高)
設備重量約500KG
上一條: APS1500X-VCSEL 下一條: APS-2000X2
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