APS-2000XT2
- 副標題8寸半自動三溫精密探針臺
詳細說明
通用半自動測試,8寸以下兼容,有高低溫測試選件。

項目 | 性能指標 | |
可測圓片尺寸 | 6#8# | |
xy工作臺 | 行程 | 220mm*450mm |
分辨率 | 0.1μm | |
定位精度 | ≤±5μm | |
控制方式 | 直線電機,光柵尺閉環 | |
承片臺 | Z向行程 | 30mm(分辨率1μm) |
定位精度 | ≤±3μm | |
Z臺自動補償 | 位移傳感器自動晶圓高度測試(選配) | |
θ向微調范圍 | ±10°(分辨率0.0000425°) | |
Chuck盤 | 平面度 | <10μm |
結構尺寸 | 高低溫三同軸真空環槽結構 | |
溫控系統(高低溫選配) | 溫控范圍 | ‘-50°C~150°C |
溫控精度 | 分辨率0.1°C;溫控穩定性:全溫區±1°C | |
保護氣體 | N2(流量:20L/H,壓力:<0.2MPa) | |
探針保護 | 八角盤 | |
微腔機構 | 微腔機構 | 整體封閉微腔;氮氣保護 |
上下片 | 方式 | 手動 |
圖像對準,觀察 | 配置 | 金相單筒顯微鏡,無級變倍范圍:0.6X~5X超長工作距離物鏡:2X/5X/10X三只 |
調節機構 | XY調節行程:50mm*50mm,Z軸微調30mm,Z氣動自動行程100mm(選配件) | |
減震臺 | 氣浮減震臺 | 950mm*1200mm*950mm(寬深高)一體化氣浮減震臺(500mm寬操作及儀表平臺) |
軟件功能 | MAP | 加載,編輯,導出 |
對準 | 自動掃平,首點對準 | |
測試 | 圓形,MAP,重測,跳測。 | |
打點 | 離線,同步,噴墨打點,墨點尺寸φ0.5mm | |
接口 | TTL(標準):GPIB/RS232/接口(選項) | |
外形尺寸 | 探針臺尺寸 | 950mm*1200mm*1200mm(寬*深*高) |
溫控箱尺寸 | 800*800*1300(寬*深*高) | |
設備重量 | 約500KG |
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