APS-2000X2
- 副標題8寸半自動精密探針臺
詳細說明
適用于8寸及以下的半自動晶圓高精度定位測試需求

項 目 | 性能指標 | |
可測芯片尺寸 | 8″圓片 | |
(可選項)定制功能、單芯片拼板測試(專用夾具) | ||
X、Y工作臺 | 行程 | X方向220mm×Y方向450mm |
分辨率 | 1μm | |
定位精度 | ≤ ±3μm | |
控制 | 大理石基座,直線電機,光柵尺閉環 | |
(最大速度200mm/S) | ||
承片臺 | 行程 | 30mm |
分辨率 | 1μm | |
定位精度 | ≤ ±3μm | |
θ臺微調范圍 | ±10 o (分辨率0.0007 o) | |
接觸分離距離 | 0.5mm(單芯片模式可設置) | |
承片盤 | 標準8″承片盤 | |
(可選項)兼容專用夾具承載 | ||
上、下片 | 方式 | 手動 |
芯片固定 | 真空吸附 | |
圖像對準 | 模板對準,實時MAP | |
探針 | 探針卡方式(選配) | 圓形探卡適配器+定制圓形探針卡 |
探針座方式(選配) | 高精度三維座+分離探針 | |
打點 | 噴墨打點、墨點尺寸φ0.5mm | |
顯微鏡 | 標準配置 | 雙目體視顯微鏡:10×目鏡,鏡體倍率:0.6×~5×,LED環光照明,工作距離:80-110mm |
減震臺 | 阻尼減震臺 | 1000×1200×1400mm(寬深高)一體化阻尼減震臺 |
(500mm寬操作及儀表平臺) | ||
外形尺寸 | 950 mm×1200 mm×1700 mm(寬×深×高) | |
設備重量 | 約700 KG | |
使用環境 | 電源 | AC 220V±22V 50Hz±1Hz 不大于1.5kW |
工作環境 | 溫度15oC-30oC,濕度<60% | |
真空原 | WAFER固定無油真空泵(自配) |
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