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探針臺

MPS-200XT

  • 副標題8寸三溫手動探針臺

詳細說明

適用8寸以下高低溫晶圓測試。廣泛應用于研究所,大學,實驗室,研發中心。


項目性能指標
可測圓片尺寸4#6#8#
xy工作臺結構精密絲杠,交叉滾柱導航
分辨率粗調10mm/圈,微調5μm
承片臺θ向微調范圍±10°微調, 分辨率0.0000425°
Chuck盤平面度10μm;30μm@>100°C;20μm@<20°C
晶圓固定真空吸附,分檔控制
針座平臺平面度≤±50μm(導磁不銹鋼)
接觸/分離2.5mm,0.5mm定量器
驅動手柄驅動
上下片方式手動
抽屜行程260mm
圖像對準,觀察配置金相單筒顯微鏡,無級變倍范圍:0.6X~5X超長工作距離物鏡:2X/5X/10X三只 照明:LED同軸光照明
調節機構XY調節行程:50mm*50mm,Z軸微調30mm,Z氣動自動行程100mm(選配件)
溫控系統(高低溫選配)溫控范圍’-50°C~150°C
溫控精度分辨率0.1°C;溫控穩定性:全溫區±1°C
保護氣體N2(流量:20L/H,壓力:<0.2MPa)
探針保護八角盤
減震工作臺(選配)1200mm*1000mm*700mm(長*深*高)
減配機型MPS200X



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