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探針臺

MPS-200Q

  • 副標題8寸手動探針臺(氣浮版)

詳細說明

適用8寸以下高低溫晶圓測試。廣泛應用于研究所,大學,實驗室,研發中心。

    
項目性能指標
可測圓片尺寸4#6#8#,碎片
xy工作臺粗動臺行程:250mm*250mm  鎖緊:電磁鎖
微動臺行程±6.5mm  分辨率:10μm
承片臺Z向行程3mm
旋轉微調±10°微調, 分辨率0.006°
Chuck盤平面度≤±7.5μm
真空4#6#8#真空分檔控制
絕緣度≥3000v
結構尺寸8#環槽微孔
溫控(選配件)RT-200°C 精度:±1°C 風冷或水冷
針座平臺平面度≤±50μm(導磁不銹鋼)
升降行程25mm
接觸/分離0.5mm
上下片方式拉出式上下片
觀察機構(可選CCD同軸光鏡頭)顯微鏡調節顯微鏡三維微調機構行程:X:150mm Y:50mm Z:30mm
顯微鏡 標配雙目體視顯微鏡,光學倍率0.7X-4.5X連續變倍,可增配三目顯微鏡加視覺套件
照明LED亮度可調節環形燈


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